< Návrat zpět do knihovny opto.cz

Antonín Vašíček: Měření a vytváření tenkých vrstev v optice (1957

Desky knihy Titulní list knihy Obsah Předmluva

8. Měření tenkých vrstev

• 8.1 Úvod
• 8.2 Měření indexu lomu a tloušťky tenkých průhledných vrstev
  • 8.2.1 Subjektivní metoda podle interferenční barvy světla v tenké vrstvě
  • 8.2.2 Měření odrazivosti a propustnosti skla s tenkou vrstvou fotočlámkem
  • 8.2.3 Měření indexu lomu a tloušťky tenké průhledné vrstvy v polarizovaném světle
  • 8.2.4 Měření indexu lomu dielektrika z odrazu polarizovaného světla
  • 8.2.5 Dokonalý a skutečný povrch dielektrika
  • 8.2.6 Úhel elipticity γ - kritériem přítomnosti tenkých vrstev na dielektriku (na skle)
  • 8.2.7Výpočet veličin přístupných optickým měřením
  • 8.2.8 Poarimetrické metody pro měření indexu lomu a tloušťky tenké vrstvy na skle z odraženého světla
  • 8.2.9 Měření nehomogenity tenké průhledné brstvy na dielektriku
  • 8.2.10 Stanovení indexu lomu a tloušťky velmi tenké vrstvy z Drudeových vzorců
  • 8.2.11 Stanovení indexu lomu a tloušťky vrstvy ze světla propuštěného tenkou vrstvou na skle
• 8.3 Optická měření na kovech
  • 8.3.1 Dokonalý povrch kovu
  • 8.3.2 Měření optických konstant kovů
  • 8.3.3 Optická měření na skutečném povrchu kovů
  • 8.3.4 Stanovení indexu lomu a tloušťky tenkých vrstev kysličníku hlinitého na hliníkovém zrcadle
  • 8.3.5 Studium tenkých kysličníkových vrstev na kovu z přírůstku váhy kovového vzorku
• 8.4 Měření tloušťky tenké vrstvy interferometrickou metodou podle Tolanského
  • 8.4.1 Lukešova grafická metoda pro interferometrické měření tloušťky vrstvy v bílém světle
  • 8.4.2 Interferometr Linnikův
• 8.5 Měření optických konstant a tloušťky tenké kovové vrstvy
  • 8.5.1 Stanovení optických konstant tenké kovové vrstvy z polarizace odraženého světla
  • 8.5.2 Forsterlingova polarimetrická metoda pro měření optických konstant velmi tenkých kovových vrstev
  • 8.5.3 Wolterovy kritické poznámky ke studiu tenkých kovových vrstev
  • 8.5.4 Rouardovy studie odrazivosti a propustnosti tenkých kovových vrstev

• 9.1 Složení skla
  • 9.1.1 Struktura základní skelné hmoty
  • 9.1.2 Struktura povrchu optického skla
  • 9.1.3 Vliv leštění na povrchovou strukturu optického skla
  • 9.1.4 Fyzikálně chemické vlastnosti povrchu skla
  • 9.1.5 Možnost reakce mezi leštěným povrchem skla a atmosférou
  • 9.1.6 Korozní vliv vodní páry na povrch skla
  • 9.1.7 Korozní vliv kyselých plynů a kyselin na povrch skla
• 9.2 Vytváření tenkých protiodrazových vrstev v optické praxi
• 9.3 Rozdělení tenkých protiodrazových vrstev
  • 9.3.1 Chemické vrstvy
  • 9.3.2 Fyzikální vrstvy
    • a) Metoda monomolekulárních vrstev podle Blodgettové
    • b) Tenké fyzikální vrstvy na skle vytvořené metodou vypařování ve vakuu
    • c) Vytvoření tenkývh vrstev na skle odstředivkou
    • d) Schottova metoda vícenásobných vrstev
• 9.4 Význam tenkých protiodrazových vrstev v optické praxi
• 9.5 Vytváření tenkých kovových vrstev vypařováním ve vakuu
• 9.6 Ochrana kovových zrcadel

• 10.1 Optické konstanty polovodičů
• 10.2 Poznámka k rozdělení intenzity světla v soustavě interferenčních proužků

Literatura

Rejstřík