Přehled dle roků vydání
cislo: 2, rok: 1982, Limit: 1-7
| rok | rocnik | cislo | odstr | dostr | nazev | autori | odkaz | číslo | rok |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1982 | 27 | 2 | 33 | 36 | Koncepce řešení expozičních tubusů ve fotolitografii mikroelektronických prvků | K. Tax | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 37 | 41 | Metody měření povrchové drsnosti založené na analýze koherenční zrnitosti II. | J. Holoubek | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 42 | 42 | Pojem a význam optické spektroskopie | V. Malíšek | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 43 | 46 | Polarografický analyzátor PA 3 | K. Horák, V. Gajda | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 46 | 46 | Poslední modely od 3M | A. Svoboda | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 47 | 51 | Optická a mechanická část komparátoru a mikrofotometru pro vyhodnocování stelárních spektrogramů | J. Zicha | 2 | 1982 | |
| 1982 | 27 | 2 | 52 | 52 | To byl Jura Koluch | J. Pešák | 1982_52.html | 2 | 1982 |