cislo: 6, rok: 2003, Limit: 1-7
rok | rocnik | cislo | odstr | dostr | nazev | autori | odkaz | číslo | rok |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
2003 | 48 | 6 | 163 | 165 | Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev | M. Urbánek, J. Spousta, K. Navrátil, M. Buček, P. Neugebauer, T. Šikola | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 166 | 170 | Transmisní holografická konfokální mikroskopie | M.A. Prokopová, R. Chmelík | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 170 | 173 | Využití více optických zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů | M. Šerý, P. Jákl, J. Ježek, M. LIška, P. Zemánek | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 174 | 177 | Měření povrchů holografickým konfokálním mikroskopem | R. Chmelík, Z. Harna, L. Lovicar, I. Antošová | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 178 | 181 | Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS | P. Bábor, T. Šikola | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 181 | 186 | In situ studium smíšeného mazání reálných třecích povrchů optickými interferenčními metodami | M. Liška, M. Hartl, I. Křupka, V. Fuis | 6 | 2003 | |
2003 | 48 | 6 | 186 | 192 | Využití Fresnelovy difrakce s nulovou intenzitou ve dvou na sebe kolmých směrech k vytyčování přímek | K. Velechovský, J. Komrska | 6 | 2003 |