logo

Přehled dle roků vydání

cislo: 6, rok: 2003, Limit: 1-7

rok rocnik cislo odstr dostr nazev autori odkaz číslo rok
2003 48 6 163 165 Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev M. Urbánek, J. Spousta, K. Navrátil, M. Buček, P. Neugebauer, T. Šikola   6 2003
2003 48 6 166 170 Transmisní holografická konfokální mikroskopie M.A. Prokopová, R. Chmelík   6 2003
2003 48 6 170 173 Využití více optických zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů M. Šerý, P. Jákl, J. Ježek, M. LIška, P. Zemánek   6 2003
2003 48 6 174 177 Měření povrchů holografickým konfokálním mikroskopem R. Chmelík, Z. Harna, L. Lovicar, I. Antošová   6 2003
2003 48 6 178 181 Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS P. Bábor, T. Šikola   6 2003
2003 48 6 181 186 In situ studium smíšeného mazání reálných třecích povrchů optickými interferenčními metodami M. Liška, M. Hartl, I. Křupka, V. Fuis   6 2003
2003 48 6 186 192 Využití Fresnelovy difrakce s nulovou intenzitou ve dvou na sebe kolmých směrech k vytyčování přímek K. Velechovský, J. Komrska   6 2003