Přehled dle roků vydání
cislo: 11, rok: 2005, Limit: 1-15
| rok | rocnik | cislo | odstr | dostr | nazev | autori | odkaz | číslo | rok |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2005 | 50 | 11 | 311 | 312 | Český metrologický institut se představuje | P. Klenovský | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 312 | 312 | Symposium SPIE: Optical System Design (12.-16.září 2005, Jena, Německo) | I. Ohlídal | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 313 | 318 | Elektronová litografie pro nanotechnologie | Z. Výborný | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 319 | 321 | Snímání povrchu pomocí mikrovlného mikroskopu | V. Křesálek, M. Navrátil | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 321 | 321 | Vysoké státní vyznamenání Prof. MUDr. Mojmíru Petráňovi, CSc. | red | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 322 | 322 | 3. mezinárodní seminář o analýze dat rastrovací sondové mikroskopie | I. Ohlídal | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 323 | 326 | Study of the mechanical properties of thin films using combined nanoindentation and AFM measurements | V.Buršíková, P. Klapetek, A.Bousquet, M. Eliáš | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 330 | 333 | Biological applications of AFM Explorer - our experiences | R. Kubínek, M. Vújtek, H. Dušková | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 334 | 337 | nanoDAC Deformation Measurements Utilizing Load State Micrographs | D. Vogel, B. Michel | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 338 | 341 | Shape effects and nanoindetation | P.M.Nagy, P.Horváth, D. Aranyj, E. Kálmán | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 342 | 344 | Calibration of Scanning Capacitance Microscope transducers for high accuracy and lateral resolution analysis | Š. Lányi | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 345 | 347 | Solární fotovoltaický systém instalovaný a testovaný na České zemědělské univerzitě v Praze | P. Bican, M. Libra V. Poulek | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 348 | 349 | Užívání a zkoušení přesnosti souřadnicových měřících strojů (CMM) ve Škoda Auto a.s. Mladá Boleslav | F. Kopřiva, J. Štěpán | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 350 | 351 | DEOM - měřící přístroje pro měření rozměrů | M. Suchomel | 11 | 2005 | |
| 2005 | 50 | 11 | 351 | 351 | Prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc. jubilující | P. Klenovský | 11 | 2005 |